工程师对于嵌入式测控系统的需求日益多样化，而传统嵌入式开 发方式涉及PCB设计、制版、仿真与调试等多个流程，开发复杂度 高，时间久。NI为初涉嵌入式软硬件设计的工程师和科学家提供 了图形化系统设计方案，工程师可以利用现成可用的硬件品台在 LabVIEW图形化开发环境下开发嵌入式处理器、FPGA和I/O。即使 小型开发团队也能够更快地设计并推出创新的嵌入式测控系统。 在本次研讨会中，NI工程师将与您探讨创新嵌入式测控系统设计 中的难点，并介绍如何创建需要特殊I/O，自定义信号处理算法， 控制算法设计，自定义协议通信等需求的嵌入式测控应用。同时 也将结合来自能源电力，机器人，生物医电等多个行业和领域的 成功案例，分享提高系统性能并缩短开发周期的方法与技巧。 更多详细信息，请登录 NI嵌入式控制与监测系统主页 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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